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題目:相干電子成像及衍射進展

演講人:鄭長林, 研究員, 復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系及應(yīng)用表面物理國家重點實驗室

時間: 2021年6月21日13:00 - 15:00

地點:霞光樓220會議室

邀請人:劉晰 特別研究員

摘要：

透射電子顯微鏡是物理、化學(xué)、材料及生物研究領(lǐng)域最重要的微觀結(jié)構(gòu)表征工具之一。

近年來多項電子光學(xué)技術(shù)的發(fā)展，如像差校正器、高分辨電子能量單色器、直接電子探測器及新型電子能量損失譜儀等技術(shù)的應(yīng)用，進一步將透射電子顯微鏡的空間分辨率推向亞埃級，能量分辨率提升至優(yōu)于10meV。

這不僅使得能夠在超高分辨率下研究材料的原子及電子結(jié)構(gòu)成為可能，同時可以更精確的控制電子與物質(zhì)的相互作用及成像過程。

我們將報告基于雙球差校正透射電鏡平臺，在相干電子成像及衍射技術(shù)方面近期的研究工作：

1.通過對電子波函數(shù)的相位進行操控，高效的生成貝塞爾電子束等結(jié)構(gòu)化電子束；

2.通過定量的分析電子在晶體中的傳播及散射過程，發(fā)展應(yīng)用于量子阱結(jié)構(gòu)等納米級精確組分定量技術(shù);

3.發(fā)展基于雙球差校正透射電鏡的電子共聚焦3D成像技術(shù)；

4.發(fā)展定量STEM技術(shù)進行納米尺度的溫度測量；

5. 探索低劑量電子成像過程中信息獲取的量子極限。

個人簡介：

鄭長林，復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系及應(yīng)用表面物理國家重點實驗室研究員。本科及碩士畢業(yè)于南京大學(xué)物理系，博士畢業(yè)于德國柏林洪堡大學(xué)物理系。2010至2017年在澳大利亞莫納什電子顯微中心任Research Fellow。2017年加入復(fù)旦大學(xué)物理系，負責(zé)組建雙球差校正透射電鏡實驗平臺。

鄭長林研究員長期從事透射電子顯微學(xué)研究，在

2018年，鄭長林研究員獲澳大利亞顯微學(xué)會頒發(fā)的

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