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題目：電子直接探測帶來TEM成像與譜學分析新可能

報告人：袁昊 博士

時間：2021年03月22日，星期一，14：30-15：30

地點：霞光樓 200號 報告廳

邀請人：劉晰 特別研究員

報告簡介

電子直接探測不僅為生命科學領域中冷凍電鏡表征帶來了革命性的飛躍，也為材料科學研究帶來了新的探索機會。

直接探測超高的靈敏度和信噪比，許多以往受限于輻照損傷而難以在TEM中獲取高空間分辨率結(jié)構(gòu)信息或譜學信息的材料體系，都能夠在直接探測相機的幫助下，以基于傳統(tǒng)技術無法達到的低輻照劑量，獲得高質(zhì)量的表征結(jié)果。

本次報告將介紹運用直接探測相機獲得的成像與分析應用結(jié)果及其為不同研究領域帶來的新視角。

報告人簡介

袁昊，畢業(yè)于南京理工大學材料科學與工程系，2017年加入Gatan中國團隊，主要負責Gatan成像與分析產(chǎn)品售前售后應用支持。